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/TRST

Test ReSeT

AAPG

Automatischer ApplikationsProgramm-Generator

ADYCS

Automatic DelaY CompenSation

AFPG

Automatic Flash Program Generator

AOI

Automatische Optische Inspektion

ATG

Automatic Test Generation

ATPG

Automatic Test Program Generator

Bareboard

"naked" Board

BScan

Boundary Scan (IEEE 1149.x) ist eine Technologie zum eingebetteten Zugriff auf Schaltkreispins durch integrierte Scanzellen. Sie bilden ein Schieberegister, welches über einen TAP (Test Access Port) angesteuert wird. Das Prinzip wurde als Alternative zum In-Circuit-Test (ICT) entwickelt und vermeidet den Einsatz von Nadelkontaktierungen. 

Boundary Scan ist Teil der sogenannten Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen auch Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. ESA-Technologien sind die derzeit modernsten Strategien zur Validierung, Test, Debugging sowie zur Programmierung komplexer Boards und Systeme, können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten.

BSDL

Boundary Scan Description Language

BSDM

Boundary Scan Description Model

BST

Boundary Scan Test

CAD

Computer Aided Design

CASCON

Computer Aided SCan-based Observation and Node-control

CASLAN

CAScon LANguage

CDL

CASCON Device Library

CEM

Contract Electronic Manufactor

Chip Embedded Instruments

Chip Embedded Instruments sind in einem integrierten Schaltkreis fest oder temporär implementierte Test- und Messfunktionen (T&M). Sie bilden faktisch das Gegenstück zu externen T&M-Instrumenten, benötigen jedoch keine invasiven Kontaktierungen in Form  von Proben oder Nadeln. Dadurch vermeiden sie auch das Problem von Signalverfälschungen bei High-Speed-Designs durch parasitäre Kontaktierungs-Effekte.

Chip Embedded Instruments sind Teil der sogenannten Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen auch Verfahren wie Boundary Scan, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören.

ChipVORX

ChipVORX ist eine Intellectual Property (IP) basierende Technologie zur Implementierung, zum Zugriff und zur Steuerung von Chip Embedded Instruments über IEEE1149.x/JTAG. Es unterstützt auch FPGA Embedded Instruments in Form von Softcores. Dazu enthält die ChipVORX-Bibliothek derzeit über 300 verschiedene Test und Measurement Instrumente für alle führenden FPGA-Plattformen. Zu diesen Instrumenten zählen unter anderem Frequenzmesser, High-Speed-Flash-Programmer, sowie IP zum At-Speed-Access-Test von dynamischen RAM-Bausteinen. Der Einsatz von ChipVORX verlangt vom Anwender weder fachspezifisches Hintergrundwissen noch spezielle FPGA-Tools oder kontinuierliche IP-Anpassungen.

CNL

CASCON Net LIst

CON

CONfiguration file

EMS

Electronic Manufactoring Service

ESA-Technologien

ESA-Technologien sind die derzeit modernsten Strategien für Validierung, Test, Debugging sowie zur Programmierung komplexer Boards und Systeme, können über den gesamten Produktlebenszyklus eingesetzt werden und ermöglichen verbesserte Testabdeckung bei verringerten Kosten.

GENESIS

GOEPEL electronic Extended Support and Information Service

ICT

In Circuit Test

JBC

Jam Byte Code; Jam in binary format

PCB

Printed Circuit Board

POLARIS

Programming Of PLD and FLASH Reconfigurable In-System

PTH

Pin Through Hole

PTS

Program Type Selector

RAM

Random Access Memory

ScanVision Tool-Suite

ScanVision besteht prinzipiell aus den drei Elementen Layout Visualizer, Schematic Visualizer und Virtual Schematic Visualizer. Alle Komponenten sind integrale Bestandteile der Boundary-Scan-Software SYSTEM CASCON und nutzen eine konsistente Projektdatenbasis. Bei Multi-Board-Applikationen wird diese durch Import der einzelnen Designdaten und Referenzierung der Verbindungen gewonnen. Dazu stehen mit dem CASCON Board-Merger, sowie dem CASCON Component Explorer entsprechende  Werkzeuge zur Verfügung.

Mit Hilfe dieser Informationen eröffnet sich jetzt die Möglichkeit des interaktiven Cross-Probing zwischen Schematic und Layout, der selektiven Markierung von Pins, Komponenten und Leiterzügen, sowie der Nachverfolgung von Signalpfaden über multiple Boards mit dynamischer Umschaltung. Dadurch können Operationen wie Testabdeckungsanalyse, Hardware-Debugging oder grafische Fehleranzeige über die Baugruppengrenzen hinaus auf Systemniveau vorgenommen werden. Das selektiv arbeitende Virtual Schematic Werkzeug bietet dabei eine besonders effektive Möglichkeit der hierarchischen Multi-Board-Schaltungsanalyse, da es ein adaptives Tracing von Signalpfaden auf Basis virtueller Komponenten unabhängig von deren geografischen Position unterstützt.

SCP

SCANPLUS

SMD

Service Mounted Device

SMT

Service Mounted Technology

STAPL

STandard Test And Programming Language

SVF

Serial Vector Format

TAP

Test Access Port

TCK

Test ClocK

TDI

Test Data In

TDO

Test Data Out

THT

Through Hole Technology

TMS

Test Mode Select

 

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