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SCANFLEX II CUBE

Hochleistungscontroller für Embedded Tests und Programmierung

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX II CUBE ist die neue Generation modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller. Gestützt auf modernsten Multi-Core-Prozessoren und FPGAs eröffnet das System neue Wege zur Unterstützung der Embedded JTAG Solutions. Durch die multifunktionale Architektur des SCANFLEX II CUBE kann der Anwender zahlreiche Technologien flexibel und mit hoher Performance auf nur einer Plattform kombinieren:

  • Embedded Board Test: deutlich verbesserte Prüftiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln
  • Embedded Functional Test parallel zu Embedded Programming
  • keine externen Programmer notwendig
Ulrike Ahlf
Ulrike Ahlf
+49-3641-6896-732 Fon

Features

  • acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • synchronisierte Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen
  • programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signaleinheit
  • programmierbare TAP-Protokolle für eine Vielzahl von Prozessor Debug-Interfaces
  • Unterstützung von bis zu 31 parallel angesteuerten SCANFLEX I/O-Modulen
  • Ansteuerung über USB 3.0 oder Gbit LAN
Ulrike Ahlf
Ulrike Ahlf
+49-3641-6896-732 Fon