Links

Hier haben wir einige Links zu Internetseiten zusammengestellt, wo Sie weitere Informationen zum Thema Boundary Scan / JTAG zum Testen und Programmieren finden.

Standards:

•	IEEE Std 1149.1	Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE Std 1149.4	Mixed Signal Test Bus Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE Std 1149.5	Module Test and Maintenance Bus (MTM-Bus) Protocol Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE Std 1149.6	Standard for Boundary Scan testing of Advanced Digital Networks, 2003 Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE Std 1450	Standard Test Interface Language (STIL) Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE P1500	Standard for Embedded Core Test (SECT) Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE Std 1532	Boundary-Scan-based In System Configuration of Programmable Devices, Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].
•	IEEE ISTO 5001	Früher unter dem Namen Nexus und jetzt unter dem Namen Global Embedded Processor Debug Interface Standard (GEPDIS) bekannt Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten der [IEEE ISTO].
•	JESD71	Standard Test and Programing Language (STAPL) Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [JEDEC].

Chiphersteller (BSDL Files):

•	Actel	[http://www.actel.com/]
•	Altera	[http://www.altera.com/support/devices/bsdl/bsdl.html]
•	AMD	[http://www.amd.com/]
•	Analog Devices	[http://www.Analog.com/]
•	Cypress	[http://www.cypress.com]
•	Developer	[http://developer.intel.com/]
•	IDT	[http://www.idt.com/]
•	Infineon	[http://www.infineon.com/products/index.htm]
•	Intel	[http://www.intel.com/design/flash/datashts/index.htm]
•	ISSI	[http://www.issi.com/]
•	Lattice	[http://www.latticesemi.com/]
•	Micron	[http://www.micron.com/mti/]
•	Mosel Vitelic	[http://www.moselvitelic.com/]
•	Motorola	[http://www.motorola.com]
•	National Semiconductor	[http://www.national.com/]
•	NEC Electronics	[http://www.necel.com]
•	Oki	[http://www.oki.com]
•	Phytec	[http://www.phytec.de/germany/]
•	Samsung	[http://www.intl.samsungsemi.com/]
•	Texas Instruments	[http://www.ti.com]
•	Toshiba	[http://www.toshiba.com/taec/nonflash/indexmemory.html]
•	Vantice	[http://www.vantis.com]
•	Xilinx	[http://www.support.xilinx.com/support/sw_bsdl.htm]

Hersteller von ATE-Systemen (Integrationspartner):

•	ITOCHU-Systech	[http://www.itochu-systech.com]
•	SPEA GmbH	[http://www.spea-ate.de]
•	Digitaltest	[http://www.digitaltest.de]

Leiterplattenentwickler, - hersteller und - bestücker:

•

esw GmbH & Co. KG

[http://www.esw-stolberg.com]

Webseiten zum Thema Test/Inspektion/Prüfung:

A.T.E. (Advanced Test Engineering) Solutions Inc.
[http://www.besttest.com]
[http://www.ateworld.com]

everythingPCB

Literaturempfehlungen:

Darüber hinaus empfehlen wir Ihnen die folgenden Bücher:

•

Ewald Gailing et al."Strategien zur wirtschaftlichen Produktion von elektronischen Baugruppen"
Das Werk vermittelt Erfahrungen und Kenntnisse aus Industrie und Wissenschaft und macht den Versuch, die unterschiedlichen Anforderungen des Marktes darzustellen, Hinweise für ein fertigungs- und prüfgerechtes Design zu geben, Unterschiede von SMT-Stand-Alone- und Linienkonzepten für die Herstellung darzustellen, sowie Prüfverfahren und Prüfstrategien zu erläutern.
Das Buch kann online beim [Leuze-Verlag] bestellt werden.

•

Parker, Kenneth P., The Boundary Scan Handbook. 2003, Third Edition

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com