CION Module im Detail
Die CION-Module ermöglichen eine erweiterte JTAG-/Boundary-Scan-Testabdeckung für scanunfähige digitale Schaltungskomponenten und Steckverbinder, sowie eine Vielzahl von analogen Tests und Spannungsmessungen. Alle Testkanäle bieten erhöhten Treiberstrom und ein sogenanntes "unstress"-Feature zur Vermeidung von Interface Beschädigungen durch zu hohe Fehlerströme.
Die CION Module/FXT48A/96A/192A wurden speziell zur Integration in Testfixtures entwickelt. Herzstück der Module sind mehrere der speziellen CION-ASICs und ein umfangreicher Analogkomplex. Die Kanäle sind pro Pin individuell programmierbar (Richtung). Mehrere Module sind kaskadierbar und es existieren 4 opto isolierte I/O Kanäle.
CION Module/FXT48A
- 48 digitalen I/O-Kanälen
- 8 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
- 2x RS232 Schnittstellen
- 1x RS485 Schnittstelle
- Test von analogen Komplexen wie z.B. ADC oder DAC, digitalen Widerständen
CION Module/FXT96A
- 96 digitale I/O Kanäle
- 16 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
- 3 Open Collector Output
- 2 DPST Relais zum Schalten von bis zu 5 A pro Kontakt
CION Module/FXT192A
- 192 digitale I/O Kanäle
- 16 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
- 3 Open Collector Output
- 2 DPST Relais zum Schalten von bis zu 5 A pro Kontakt
CION Module™/FXT96
Beim CION Module/FXT96 handelt es sich um ein Testboard mit 96 bidirektionalen Testkanälen, die sich durch programmierbare I/O-Spannungen zwischen 1,8 V und 5 V in drei Gruppen zu je 32 Kanälen auszeichnen. Es wurde speziell für Mixed-Voltage-Applikationen mit Single-Ended-Signalen entworfen.
- Testkanäle einzeln richtungsprogrammierbar
- Stromergiebigkeit der Treiber je Testkanal: ± 24mA
- Module sind kaskadierbar
- Vorbereitet für den Aufbau in Testadapter
CION Module™/FXT114S
Das CION Module/FXT114S ermöglicht den strukturellen Test von seriellen Highspeed-Interfaces gemäß IEEE 1149.6. Anwendungsbereiche finden sich im Test von scanunfähigen Schaltungsclustern, Steckverbindern und Backplanes im Bereich der Telekommunikation, Industriesteuerungen, Embedded Control, Automotive sowie Luft- und Raumfahrt.
- 114 parallele Testkanäle für IEEE 1149.1
- 64 Single Ended Testkanäle unterstützt durch CION™ ASIC
- Spannungsprogrammierung der 32 Kanäle zwischen 1.8V bis 5V
- 50 LVDS-Kanäle mit IEEE1149.1 und IEEE1149.6-Unterstützung:
- 25 Input Kanäle
- 25 Output Kanäle
- Mehrere Module sind kaskadierbar (Daisy Chain Prinzip)
Die Kanäle der CION Module für DIMM-Interfaces sind pro Pin individuell programmierbare Kanäle (Richtung). Mehrere Module sind kaskadierbar und hot swap-fähig.
CION Module™/DIMM168
- Test von DIMM168-Interfaces gemäß JEDEC-Standard 21-C
- Herzstück des Moduls sind mehrere der speziellen CION-ASIC
- Testabdeckung für sämtliche Anschlüsse einschließlich Power- und Ground-Pins
- automatische Spannungsdetektion
CION Module™/SO-DIMM200 und CION Module™/SO-DIMM200-1
- Test von DDR2-SO-DIMM200- bzw. DDR1-SO-DIMM200-Interfaces
- vier CION-Baugruppen
- automatische Spannungsdetektion
- Test aller Signal- und Spannungs-Pins gemäß JEDEC-Standard JESD79-2C
CION Module™/SO-DIMM204-3
- Test von DDR3-SO-DIMM204-Interfaces gemäß JEDEC-Standard
- Herzstück ist ein spezieller CION-ASIC und ein FPGA
- Testabdeckung für sämtliche DDR3-Interface-Signale einschließlich der meisten Power- und Ground-Pins
CION Module™/DIMM240
- Test von DIMM240 Sockeln (DDR2) mit sechs CION Baugruppen gemäß JEDEC-Standard (JESD 79-2C)
- Einstellung des notwendigen Spannungslevels gemäß JEDEC Standard (JESD 21-C)
- Testet alle DIMM Anschlüsse einschließlich Power and Ground Pins
- 192 Boundary-Scan-Kanäle über CION-ASIC für logische Zustände und Strom
CION Module™/DIMM240-3
- Test von DDR3-DIMM240-Interfaces gemäß JEDEC-Standard (JESD21-C und JESD79-3C)
- Herzstücke des Moduls sind ein spezieller CION-ASIC und ein FPGA
- Testabdeckung für sämtliche DDR3-Interface-Signale einschließlich der meisten Power- und Ground-Pins
CION Module™/SO-DIMM244
- Test von DDR2-Mini-DIMM244-Interfaces gemäß JEDEC-Standard JESD792C
- Herzstücke des Moduls sind mehrere spezielle CION-ASIC
- automatische Spannungsdetektion
- Testabdeckung für sämtliche Anschlüsse einschließlich
Power- und Ground-Pins
CION Module™/PCI32-64
Das CION Module/PCI32-64 wurde als konfigurierbare PCI-Karte für den erweiterten JTAG-/Boundary-Scan-Test von 3,3 V- und 5 V-PCI-Steckern (z.B. auf PC-Motherboards) inkl. automatischer Spannungserkennung entwickelt.
Jedes PCI-Signal kann unabhängig von den anderen als Eingang, Ausgang, bidirektional oder inaktiv geschaltet werden.
- 192 JTAG-/Boundary-Scan-Testkanäle mit CION™-ICs
- Test von 32bit und 64bit PCI Steckverbindern
- Test von 32bit and 64bit PCI Karten zusammen mit dem [PCI32/64 Fixture]
- Test aller PCI Signale, inclusive Power und Ground
- Testkanäle einzeln richtungsprogrammierbar
- Stromergiebigkeit der Treiber je Testkanal: ± 24mA
CION Module™/PCIe-x1
Das CION Module/PCIe-x1 ermöglicht den strukturellen Test von x1-PCI-Express-Slots per IEEE 1149.1/6. Kernelement des Moduls ist ein CION-ASIC gepaart mit differenziellen Testkanälen. Das Modul wird direkt in den zu testenden PCI-Express-Slot eingesteckt und über einen TAP angesteuert. Durch die On-Board IEEE 1149.1 und IEEE 1149.6 Testkanäle sind sämtliche High-Speed Signalpins, Low-Speed Signalpins und Spannungsversorgungspins von PCI Express 1.x und 2.0 kompatiblen Steckverbindern testbar.
CION Module™/PCIe-x4
Das CION Module/PCIe-x4 ermöglicht den strukturellen Test von x4-PCI-Express-Slots per IEEE 1149.1/6. Kernelement des Moduls ist ein CION-ASIC gepaart mit differenziellen Testkanälen. Das Modul wird direkt in den zu testenden PCI-Express-Slot eingesteckt und über einen TAP angesteuert. Durch die On-Board IEEE 1149.1 und IEEE 1149.6 Testkanäle sind sämtliche High-Speed Signalpins, Low-Speed Signalpins und Spannungsversorgungspins von PCI Express 1.x und 2.0 kompatiblen Steckverbindern testbar.
CION Fixture™/AMC
Das CION Fixture/AMC wurde für AMC Single-Slot-Module entwickelt und kann auf Motherboards oder Gehäusen montiert werden. Slot #1 ist für das CION Modul/FXT114S reserviert.
Die Kombination des CION Fixture/AMC mit dem CION Modul/FXT114S kann zur Erhöhung der Testbarkeit von Karten mit AMC-Interface verwendet werden.
CION Fixture™/PCI32-64
Dieses Fixture ist ein 3-Slot-PCI-Testadapter, der sowohl Karten mit 32- als auch 64-Bit-Datenbusbreiten unterstützt. Slot 1 ist für das CION Module/PCI32-64 reserviert.
Beide Karten zusammen wurden für den JTAG-/Boundary-Scan-Test von PCI-Karten entwickelt und testen über das PCI-Interface.
CION Fixture™/PCIe-x16
Beim CION Fixture/PCIe-x16 handelt es sich um einen 2-Slot-PCI-Express-Testadapter, der PCI-Express-Karten mit 1, 4, 8, 12 und 16 Lanes unterstützt. Slot 1 ist für das CION Module/PCIe-x1 oder das CION Module /PCIe-x4 reserviert.
Beide Karten zusammen wurden für den JTAG-/Boundary-Scan-Test von PCI-Karten entwickelt und testen über das PCI-Express-Interface.


