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JTAG/Boundary Scan

Die CION Module im Detail

CION Module im Detail

JTAG Transceiver-Schaltkreis CION LX
CION LX

Die CION-Module ermöglichen eine erweiterte JTAG-/Boundary-Scan-Testabdeckung für scanunfähige digitale Schaltungskomponenten und Steckverbinder, sowie eine Vielzahl von analogen Tests und Spannungsmessungen. Alle Testkanäle bieten erhöhten Treiberstrom und ein sogenanntes "unstress"-Feature zur Vermeidung von Interface Beschädigungen durch zu hohe Fehlerströme.

Die CION Module/FXT48A/96A/192A wurden speziell zur Integration in Testfixtures entwickelt. Herzstück der Module sind mehrere der speziellen CION-ASICs und ein umfangreicher Analogkomplex. Die Kanäle sind pro Pin individuell programmierbar (Richtung). Mehrere Module sind kaskadierbar und es existieren 4 opto isolierte I/O Kanäle.

CION Module/FXT48A

  • 48 digitalen I/O-Kanälen
  • 8 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
  • 2x RS232 Schnittstellen
  • 1x RS485 Schnittstelle
  • Test von analogen Komplexen wie z.B. ADC oder DAC, digitalen Widerständen

CION Module/FXT96A

  • 96 digitale I/O Kanäle
  • 16 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
  • 3 Open Collector Output
  • 2 DPST Relais zum Schalten von bis zu 5 A pro Kontakt

CION Module/FXT192A

  • 192 digitale I/O Kanäle
  • 16 analoge Input- und 8 analoge Output-Kanäle (12 bit) mit konfigurierbarem I/O-Spannungsbereich
  • 3 Open Collector Output
  • 2 DPST Relais zum Schalten von bis zu 5 A pro Kontakt

 

CION Module™/FXT96

Beim CION Module/FXT96 handelt es sich um ein Testboard mit 96 bidirektionalen Testkanälen, die sich durch programmierbare I/O-Spannungen zwischen 1,8 V und 5 V in drei Gruppen zu je 32 Kanälen auszeichnen. Es wurde speziell für Mixed-Voltage-Applikationen mit Single-Ended-Signalen entworfen.

  • Testkanäle einzeln richtungsprogrammierbar
  • Stromergiebigkeit der Treiber je Testkanal: ± 24mA
  • Module sind kaskadierbar
  • Vorbereitet für den Aufbau in Testadapter

 

CION Module™/FXT114S

Das CION Module/FXT114S ermöglicht den strukturellen Test von seriellen Highspeed-Interfaces gemäß IEEE 1149.6. Anwendungsbereiche finden sich im Test von scanunfähigen Schaltungsclustern, Steckverbindern und Backplanes im Bereich der Telekommunikation, Industriesteuerungen, Embedded Control, Automotive sowie Luft- und Raumfahrt.

  • 114 parallele Testkanäle für IEEE 1149.1
  • 64 Single Ended Testkanäle unterstützt durch CION™ ASIC
  • Spannungsprogrammierung der 32 Kanäle zwischen 1.8V bis 5V
  • 50 LVDS-Kanäle mit IEEE1149.1 und IEEE1149.6-Unterstützung:
    • 25 Input Kanäle
    • 25 Output Kanäle
  • Mehrere Module sind kaskadierbar (Daisy Chain Prinzip)

Die Kanäle der CION Module für DIMM-Interfaces sind pro Pin individuell programmierbare Kanäle (Richtung). Mehrere Module sind kaskadierbar und hot swap-fähig.

CION Module™/DIMM168

  • Test von DIMM168-Interfaces gemäß JEDEC-Standard 21-C
  • Herzstück des Moduls sind mehrere der speziellen CION-ASIC
  • Testabdeckung für sämtliche Anschlüsse einschließlich Power- und Ground-Pins
  • automatische Spannungsdetektion

CION Module™/SO-DIMM200 und CION Module™/SO-DIMM200-1

  • Test von DDR2-SO-DIMM200- bzw. DDR1-SO-DIMM200-Interfaces
  • vier CION-Baugruppen
  • automatische Spannungsdetektion
  • Test aller Signal- und Spannungs-Pins gemäß JEDEC-Standard JESD79-2C

CION Module™/SO-DIMM204-3

  • Test von DDR3-SO-DIMM204-Interfaces gemäß JEDEC-Standard 
  • Herzstück ist ein spezieller CION-ASIC und ein FPGA
  • Testabdeckung für sämtliche DDR3-Interface-Signale einschließlich der meisten Power- und Ground-Pins

CION Module™/DIMM240

  • Test von DIMM240 Sockeln (DDR2) mit sechs CION Baugruppen gemäß JEDEC-Standard (JESD 79-2C)
  • Einstellung des notwendigen Spannungslevels gemäß JEDEC Standard (JESD 21-C)
  • Testet alle DIMM Anschlüsse einschließlich Power and Ground Pins
  • 192 Boundary-Scan-Kanäle über CION-ASIC für logische Zustände und Strom

CION Module™/DIMM240-3

  • Test von DDR3-DIMM240-Interfaces gemäß JEDEC-Standard (JESD21-C und JESD79-3C)
  • Herzstücke des Moduls sind ein spezieller CION-ASIC und ein FPGA
  • Testabdeckung für sämtliche DDR3-Interface-Signale einschließlich der meisten Power- und Ground-Pins

CION Module™/SO-DIMM244

  • Test von DDR2-Mini-DIMM244-Interfaces gemäß JEDEC-Standard JESD792C
  • Herzstücke des Moduls sind mehrere spezielle CION-ASIC
  • automatische Spannungsdetektion
  • Testabdeckung für sämtliche Anschlüsse einschließlich
    Power- und Ground-Pins

CION Module™/PCI32-64

Das CION Module/PCI32-64 wurde als konfigurierbare PCI-Karte für den erweiterten JTAG-/Boundary-Scan-Test von 3,3 V- und 5 V-PCI-Steckern (z.B. auf PC-Motherboards) inkl. automatischer Spannungserkennung entwickelt.

Jedes PCI-Signal kann unabhängig von den anderen als Eingang, Ausgang, bidirektional oder inaktiv geschaltet werden.

  • 192 JTAG-/Boundary-Scan-Testkanäle mit CION™-ICs
  • Test von 32bit und 64bit PCI Steckverbindern
  • Test von 32bit and 64bit PCI Karten zusammen mit dem [PCI32/64 Fixture]
  • Test aller PCI Signale, inclusive Power und Ground
  • Testkanäle einzeln richtungsprogrammierbar
  • Stromergiebigkeit der Treiber je Testkanal: ± 24mA

CION Module™/PCIe-x1

Das CION Module/PCIe-x1 ermöglicht den strukturellen Test von x1-PCI-Express-Slots per IEEE 1149.1/6. Kernelement des Moduls ist ein CION-ASIC gepaart mit differenziellen Testkanälen. Das Modul wird direkt in den zu testenden PCI-Express-Slot eingesteckt und über einen TAP angesteuert. Durch die On-Board IEEE 1149.1 und IEEE 1149.6 Testkanäle sind sämtliche High-Speed Signalpins, Low-Speed Signalpins und Spannungsversorgungspins von PCI Express 1.x und 2.0 kompatiblen Steckverbindern testbar.

CION Module™/PCIe-x4

Das CION Module/PCIe-x4 ermöglicht den strukturellen Test von x4-PCI-Express-Slots per IEEE 1149.1/6. Kernelement des Moduls ist ein CION-ASIC gepaart mit differenziellen Testkanälen. Das Modul wird direkt in den zu testenden PCI-Express-Slot eingesteckt und über einen TAP angesteuert. Durch die On-Board IEEE 1149.1 und IEEE 1149.6 Testkanäle sind sämtliche High-Speed Signalpins, Low-Speed Signalpins und Spannungsversorgungspins von PCI Express 1.x und 2.0 kompatiblen Steckverbindern testbar.

CION Fixture™/AMC

Das CION Fixture/AMC wurde für AMC Single-Slot-Module entwickelt und kann auf Motherboards oder Gehäusen montiert werden. Slot #1 ist für das CION Modul/FXT114S reserviert.

Die Kombination des CION Fixture/AMC mit dem CION Modul/FXT114S kann zur Erhöhung der Testbarkeit von Karten mit AMC-Interface verwendet werden.

CION Fixture™/PCI32-64

Dieses Fixture ist ein 3-Slot-PCI-Testadapter, der sowohl Karten mit 32- als auch 64-Bit-Datenbusbreiten unterstützt. Slot 1 ist für das CION Module/PCI32-64 reserviert.

Beide Karten zusammen wurden für den JTAG-/Boundary-Scan-Test von PCI-Karten entwickelt und testen über das PCI-Interface.

CION Fixture™/PCIe-x16

Beim CION Fixture/PCIe-x16 handelt es sich um einen 2-Slot-PCI-Express-Testadapter, der PCI-Express-Karten mit 1, 4, 8, 12 und 16 Lanes unterstützt. Slot 1 ist für das CION Module/PCIe-x1 oder das CION Module /PCIe-x4 reserviert.

Beide Karten zusammen wurden für den JTAG-/Boundary-Scan-Test von PCI-Karten entwickelt und testen über das PCI-Express-Interface.

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