Willkommen im Zentrum der Applikation
Mit der passenden Technologie bieten wir Ihnen den entsprechenden Zugriff auf Ihre Applikation!
Auch Sie sind mit dem Testen moderner Elektronik stets und ständig konfrontiert! In der Produktion, im Labor oder direkt während der Arbeit mit einem Board.
Moderne Baugruppen bieten immer mehr Funktionalitäten auf immer weniger Raum. Ihre Leiterplatten sind mit vielen Bauteilen bestückt, deren Anschlüsse nur noch schwer kontaktierbar sind. Auch liegen die Leiterbahnen für die Nadeln des In-Circuit Testers zu eng beieinander und bieten kaum Platz für die notwendigen Testpunkte.
Das Kernproblem bei sämtlichen Prozessen des Testens ist der Zugriff. Der Zugriff auf den Prüfling (Unit Under Test - UUT) zur Ausführung der gewünschten Applikation.
Durch den Einsatz von Embedded-System-Access-Technologien (ESA) besteht die Chance über alle Produktlebensphasen hindurch standardisierte Instrumentierungs-Plattformen auf Basis von JTAG/Boundary Scan zu nutzen und vorhandene Applikationen wiederzuverwenden und die Fehlerabdeckung im Produktionstest zu erhöhen.
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